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      日本電子X射線光電子能譜儀

      日本電子X射線光電子能譜儀

      型    號:JPS-9030型
      所屬分類:能譜儀
      報    價: 市場價:
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      日本電子X射線光電子能譜儀是材料科學和發展的領域中*泛使用的表面分析技術。其原理是利用X射線束(一般會使鋁陽極或鎂陽極)作為入射源,照射在樣品表面導致讓光電子從原子的核心層被激發出。根據測得的光電子所發出的電子動能,再依照能量守恒定律就可以知道電子的結合能,從而也就可知道樣品表面是何物質。

      日本電子X射線光電子能譜儀產品概述:

      JPS-9030型X射線光電子能譜儀

      X射線光電子能譜儀用于樣品表層元素及價態分析、深度分析、UPS紫外光電子能譜結構分析等

      X射線光電子能譜儀

      型號:JPS-9030

      品牌:日本電子

      產地:日本

      制造商:日本電子

      • X 射線光電子能譜(XPS)是材料科學和發展的領域中*泛使用的表面分析技術。其原理是利用X射線束(一般會使鋁陽極或鎂陽極)作為入射源,照射在樣品表面導致讓光電子從原子的核心層被激發出。根據測得的光電子所發出的電子動能,再依照能量守恒定律就可以知道電子的結合能,從而也就可知道樣品表面是何物質。

      • 日本電子X射線光電子能譜儀功能用途:樣品表層元素及價態分析、深度分析、UPS紫外光電子能譜結構分析等

      • 日本電子X射線光電子能譜儀技術特點:具有多種非單色化及單色化的X射線源,大功率羅蘭圓提供更高的分析及能量分辨率,兼具Ar離子或Ar原子團簇模式刻蝕及紫外光電子能譜(UPS)測試等可選附件。

      一臺電子能譜儀的基本組成由所研究的試樣、一個初級激發源和電子能量分析器組成。它們安裝在超高真空(UHV)下工作。實際上,經常再備有一個UHV室安裝各種試樣制備裝置,和可能的輔助分析裝置。此外還有數據采集與處理系統。 
      (1)真空系統。電子能譜分析技術本身的表面靈敏度要求必須維持超高真空?,F代電子能譜儀采用離子泵獲得超高真空條件。所有超高真空系統都需要時常烘烤,以去除真空室內壁上的吸附層。
      (2)試樣臺。試樣被固定在試樣臺上。試樣臺要求平穩,工作時無顫動。對AES在常規分析時,試樣應導電和接地。
      (3)初級激發源。XPS和AES的初級激發源不同。
      XPS的X射線源。X射線是用高能電子轟擊陽極靶材激發出來的。由燈絲發出的熱電子被加速到一定能量去轟擊陽極靶材,引起其原子內殼層電離。當較外層電子以輻射躍遷的方式填充內殼層空位時,釋放出具有特征能量的X射線。 
      AES的電子槍。電子槍的關鍵部件是電子源及用于電子束聚焦、整形和掃描的透鏡組。電子源可以是熱電子發射體或冷場發射體;透鏡組可以是靜電型的,或用于高分辨率的電磁型的。21世紀初期,在AES能譜儀中,電磁透鏡和冷場發射電子源的結合,可提供小于10nm的電子束斑,所以空間分辨率很高。 
      (4)電子能譜分析器。在XPS和AES中通常使用的能量分析器有兩種:筒鏡形能量分析器(CMA)和半球形能量分析器(HSA)。當不追求最高分辨率,且只是收集小區域(直徑小于1mm)內的譜時,采用CMA;不需要分析化學態時,則在AES中用CMA。通常CMA能達到的能量分辨率大約為0.4%~0.6%。HSA的分辨率通常要高一個數量級


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